Congrès national des Professeurs de Physique et de Chimie du 27 au 30 octobre 2008 à Rouen
La microscopie aux echelles ultimes, imager les nanomateriaux
Xavier SAUVAGE
Chargé de Recherche CNRS Groupe de Physique des Matériaux
Université de Rouen - CNRS – INSA de Rouen

Le développement récent des nanotechnologies et des nanomatériaux a été très largement favorisé par la mise au point de techniques de microscopies permettant d'observer la matière jusqu'à l'échelle atomique. Voir, imager et caractériser les nanosystèmes ou les nanomatériaux est devenu un enjeu extrêmement important. Cette étape est en effet indispensable pour contrôler et optimiser leurs propriétés. Cet exposé débutera par un bref historique de la microscopie et notamment de la microscopie optique. Les principes physiques élémentaires exploités dans les microscopes électroniques seront ensuite présentés et l'application des microscopes électroniques à balayage et à transmission sera illustrée à travers quelques exemples. D’autres techniques permettant d’atteindre la résolution atomique seront également brièvement présentées (microscope à effet tunnel, microscopie ionique, sonde atomique), et nous verrons comment en couplant les informations récoltées par chacune d’elle il est possible d’obtenir une description très précise de l’organisation de nanostructures de notre vie quotidienne.